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EddyCus TF lab 2020電阻率測量儀可以對導電薄膜進行手動單點測量，并以非接觸模式對薄金屬層進行層厚測量。這個緊湊的臺式設(shè)備是快速和準確測量200 x 200 mm²（8 x 8英寸）以下樣品的理想選擇。除了測量導電薄層外，還可以分析摻雜的晶圓和導電聚合物。

四探針面電阻測量儀SD-800采用四探針接觸式原理，用于測量導電膜層的面電阻，探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易 劃傷膜層。儀器有多個量程范圍可自動選擇，以O(shè)hm/sq或Siemens/sq顯示數(shù)據(jù)，校準數(shù)據(jù)和測量結(jié)果 自動存儲。

非接觸式面電阻測試儀Statometer G采用感應(yīng)式測量原理，無探針接觸導電膜層，既可測量表面導電也可測量表面不導電的導電玻璃和導電膜層，是目前Low-E鍍膜生產(chǎn)普遍選用的優(yōu)質(zhì)選擇。